(1)提出問題
組成復(fù)雜的樣品，常需要用程序升溫來分離。因為在恒溫條件下，如果柱溫較低，則低沸點組分分離較好，而高沸點組分保留時間會很長，且容易造成峰展寬，甚至滯留在色譜柱中造成柱殘留污染；反之，當柱溫太高時，低沸點組分又難以分離。程序升溫既能保證各待測組分的良好分離，又能縮短分析時間。但是，在程序升溫時，有時會出現(xiàn)不規(guī)則的基線，如何解決呢?
(2)分析原因程序升溫分析時，造成基線不規(guī)則，與氣路、檢測器、進樣口有一定關(guān)系，具體有如下原因：
①載氣泄漏；
②載氣壓力不足；
③載氣有雜質(zhì)或氣路污染；
④載氣流速不在儀器最大／最小限定范圍之內(nèi)(包括FID用氫氣和空氣)；
⑤色譜柱流失或污染；
⑥進樣口隔墊流失；
⑦進樣針污染；
⑧檢測器污染。
(3)解決方案程序升溫分析時，出現(xiàn)不規(guī)則基線的解決方法如下。
第一，檢查載氣壓力是否達到規(guī)定壓力。
第二，檢查系統(tǒng)是否漏氣，其中進樣口隔墊漏氣較易常見，高溫下頻繁進樣時，要注意及時更換。
第三，檢查進樣口是否污染，清洗進樣口，更換進樣襯管。
第四，測量氣體流速是否在儀器最大／最小限定范圍內(nèi)，對于程序升溫來說，必須檢查溫度處于始、終兩點時，載氣流量是否有較大變化，如果在始、終兩點間流量之差超過2mL／s(當填充柱內(nèi)徑為4mm時)，即認為穩(wěn)流特性不好，這時需進一步檢查系統(tǒng)是否漏氣，穩(wěn)流閥、穩(wěn)壓閥工作壓力是否合乎要求。
第五，如果氣密性及載氣流速均無異常，應(yīng)考慮是否色譜柱造成，對色譜柱進行檢查。首先查看色譜峰峰形，如拖尾則應(yīng)減少進樣量或稀釋樣品濃度，以免色譜柱過載；如減少進樣量后峰形仍拖尾，則可能是色譜柱前端過臟或柱流失嚴重造成保留性能降低，可將色譜柱前端截掉1～2圈，重新安裝進行測定；若仍有拖尾現(xiàn)象，可嘗試重新老化色譜柱，若問題仍然存在，則說明該色譜柱已損壞，須更換新色譜柱。
(4)案例分析
①基線不規(guī)則用脈沖式火焰光度檢測器(PFPD)，采取程序升溫分析，待儀器穩(wěn)定后，連續(xù)進標準溶液，2～3h后，基線噪聲開始變大、上下波動，并且基線不規(guī)則。
首先觀察氮氣壓力表，壓力正常；實驗中途沒有更換過氮氣、空氣和氫氣，說明氣體純度符合要求；色譜峰不拖尾，說明色譜柱無污染；檢查進樣口，進樣墊完整、O形圈完整，進樣口不存在泄漏點；檢查襯管，發(fā)現(xiàn)壁上有臟東西，更換襯管，再進行測定，基線平穩(wěn)不再波。
②基線隨溫度升高而升高ECD檢測0．1μg／mL的有機氯標準溶液，進樣后，基線隨溫度升高而升高呈階梯狀，基線最高在450mv，檢查進樣口隔墊，已使用多次，更換新進樣墊，基線有所下降，但不明顯；檢查襯管，存在輕度污染，更換新襯管及O形圈，基線下降至300mV檢查氮氣壓力，氣瓶內(nèi)氮氣還剩1／3，更換新氮氣瓶，基線下降至200mV，關(guān)機，卸下色譜柱，發(fā)現(xiàn)石墨墊因使用時間較長，有輕微破損現(xiàn)象，更換色譜柱與進樣口、檢測器的石墨墊，進樣后基線下降至20mV以下。
當基線隨溫度升高而升高時，一般是多方面問題累積造成的。在查找問題時，應(yīng)先易后難，先檢查進樣墊、襯管、O形圈，然后檢查色譜柱兩端的石墨墊，最后再檢查更換載氣。
